Prüf- und Messtechnik

Da die Produktion von Halbleiterbauelementen mit einer zunehmenden Anzahl von Schritten immer komplexer wird, werden Waferinspektion und Messtechnik immer kritischer. Neben Vakuumlösungen für herkömmliche Inspektions- und Messinstrumente bieten wir innovative Inline-Systeme für Airborne Molecular Contamination (AMC) für Front Opening Universal Pods (FOUP) und die Analyse von Reinraumumgebungen. Mit unseren AMC-Systemen werden die Wafer während des gesamten Produktionszyklus analysiert, was zur Steigerung der Produktionsausbeute beiträgt.

Anwendungsberichte

In unseren Anwendungsberichten erfahren Sie mehr über die vielen Anwendungen, in denen unsere Vakuumlösungen von unseren Kunden eingesetzt werden!