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来源:Pfeiffer Vacuum+Fab Solutions

Pfeiffer Vacuum+Fab Solutions 推出 CenterLine CNR 系列

全球知名的 Busch Group 旗下成员 Pfeiffer Vacuum+Fab Solutions 推出 CenterLine CNR 系列,这是现有 CenterLine 真空计系列的扩展产品,尤其适用于半导体行业严苛的运行条件。

CenterLine CNR 系列由模拟电容式真空计组成,可在 0.1 至 1000 Torr 的全量程范围内实现跨越四个数量级的精准测量。CNR 系列提供加热和非加热两种型号,不仅扩展了现有的 CenterLine 系列,在严苛的运行条件下也能保持稳定性能。与其他 CenterLine 真空计一样,CNR 系列具有出色的性价比,可轻松集成到采用其他制造商的测量技术的现有设备中。

CNR 真空计非常适合与压力调节阀配套使用,适用于半导体行业的干法刻蚀、化学气相沉积(CVD)和原子层沉积(ALD)等工艺, 也可用于分析、研发及其他多种工业领域。此次产品系列拓展共推出了五种不同型号:36x、37x、38x、39x 和 30x。该系列所有产品均符合 SEMI S2 标准。

适用于各种温度下的不同工艺

CenterLine CNR 系列真空计为不同温度条件下的工艺提供了多种选择。36x 是非加热型号,可在环境温度下进行可靠测量,精度达 0.2%。同时提供 45°C、100°C、160°C 和 200°C 自加热型号。45 °C 型号的精度为 0.15%,非常适合校准实验室和高质量控制应用。其余自加热型号的精度为 0.4%,在高温或热气体工艺中的测量精度优于同类产品。

抗污染和耐腐蚀

该测量装置的核心部件是隔膜传感器。该传感器由一层通过原子层沉积(ALD)技术涂覆、稳定且耐用的陶瓷屏蔽层保护。该屏蔽层可保护传感器免受工艺气体高温的影响,并防止潜在的腐蚀。即使在恶劣的等离子体环境中,也可超大限度地减少污染,从而确保传感器具备更高的运行可靠性和准确性,以及更长的使用寿命。由于传感器漂移减少,校准频率降低,从而也降低了总拥有成本。

压力控制(p-control)滤波器设置

CenterLine CNR 系列真空计配备了一项特殊的滤波器设置——“p-control”(即压力控制)。其设计兼具快速响应和自适应特性,使真空计能够更迅速地对压力变化作出反应,并提供精确平稳的压力控制。该功能与压力调节阀配合使用时效果尤其显著。