缺陷尺寸小于 0.2µm – 最终可靠的 CCI 测试!!

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网络研讨会是关于什么的?​

普发真空应用支持的最佳实践解决方案由于其高灵敏度，氦质谱已成为包装开发和验证的“黄金标准”。在这些阶段，通常需要测试 0.2 µm 以下的缺陷（USP <1207> 中描述的 MALL）。

然而，氦泄漏测试具有挑战性。通常使用标准氦检漏仪和自制工具，这可能导致 不可重复和不可靠的测量，因为这使得测试高度依赖于操作员。

在我们的网络研讨会中，您将收到有价值的提示，以创建适当的测试程序以帮助您优化氦气 药品包装的泄漏检测。不要错过我们的最佳实践演示。

讲师

Philippe Bunod​
Business Development Europe CCIT Solutions

Lukas Engel
Leak Detection Application Engineer Pharma

谁该参加？

​​​该网络研讨会专门面向制药行业和医疗技术领域的人士：质量保证、质量管理和包装工程。